DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)工程實(shí)踐
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課程背景：
◇測(cè)試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。
◇建立可測(cè)試性設(shè)計(jì)是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵，尤其是那些對(duì)工作
可靠性要求高的系統(tǒng)。
◇若沒有可測(cè)試性設(shè)計(jì)，在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測(cè)和診斷。
◇采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以增加系統(tǒng)的可測(cè)試性，提高產(chǎn)品質(zhì)量，并減少產(chǎn)品投放市場(chǎng)的時(shí)間及測(cè)試費(fèi)用。
課程收益
學(xué)完本課程后，學(xué)員可獲得：
▲深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
▲熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
▲全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
▲有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)
課程大綱
1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
產(chǎn)品生命周期V模型
電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問題
什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
※思考：如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
可測(cè)性的物理特征表述
可測(cè)性的測(cè)度形式
※※討論：以下各功能模塊的可測(cè)性測(cè)度是怎樣的？
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過程
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語及縮略語
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源
單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
※思考：?jiǎn)伟迳a(chǎn)測(cè)試的目的是什么？
單板生產(chǎn)測(cè)試路線
單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理
單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的？
JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用
JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？
3、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部?jī)x器輸入輸出接口
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢
▲▲案例解讀
4、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
工裝夾具設(shè)計(jì)
測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)
芯片控制引腳設(shè)計(jì)
邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)
EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
5、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
※※交流與探討：如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)